奇捷科技将亮相设计自动化盛会（DAC 2023）并发表最新技术成果

奇捷科技(Easy-Logic Technology) 将于2023年7月10日-12日亮相旧金山举办的设计自动化大会DAC 2023，并发布其最新技术成果，其中包括针对逻辑功能变更过程中Design-For-Test（DFT）问题推出的新产品——ScanChainECO。

随着ASIC芯片设计规格日趋复杂、项目进度愈发紧张，在设计过程中出现需要进行逻辑功能变更操作的情况越来越频繁，这给设计团队带来了极大的业务挑战。其困难之一便是在设计过程中，由于DFT扫描链逻辑由EDA工具自动生成，为了获得最佳结果，设计师通常需要花费大量的时间精力来处理ECO过程中扫描链的变更。

奇捷科技的最新专利技术为高效修复扫描链提供了捷径，ScanChainECO基于其物理感知算法，会在逻辑功能变更后的网表中自动插入SDFFs，接合扫描链，平衡链长，并调整扫描链以满足低功耗和保持时间的要求，这为扫描链修复需求提供了完美的解决方案。

奇捷科技首席战略官秦明指出:“一次成功的ECO带来的商业效益是不可衡量的，我们将在DAC展会中，分享最新的ECO技术成果，包括高精度ECO补丁、扫描链修复和低功耗ECO等，工具运行时间短，并且可以与用户现有的ASIC设计流程无缝集成，相信奇捷科技极具竞争力的解决方案，将为客户带来巨大的商业价值。欢迎大家莅临奇捷科技2445展位，和我们的技术团队做一次深入的探讨。”

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新闻来源: 奇捷科技